Promotion zum Dr.-Ing. - Muriel Pinheiro

Es ist uns eine große Freude mitzuteilen, dass unsere Kollegin Muriel Pinheiro gestern, am 19.12.2016, ihre Doktorprüfung am Karlsruhe Institute of Technology (KIT) mit Auszeichnung bestanden hat! Ihre Arbeit "Multi-Mode SAR Interferometry for High-Precision DEM Generation" beschäftigte sich mit der Erstellung hochgenauer Höhenmodelle aus F-SAR Daten. Dank ihrer vielfältigen Entwicklungen sind wir nun in der Lage Digital Surface Models (DSM) mit nahezu Laserscanning-Qualität zu erfliegen, außerdem lassen sich ihre Verfahren auch auf TanDEM-X Daten anwenden. Herzlichen Glückwunsch, Muriel!